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課程名稱 |
積體電路系統測試
VLSI SYSTEM TESTING |
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開課學期 |
97-2 |
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授課對象 |
電機資訊學院 電機工程學研究所 |
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授課教師 |
黃俊郎 |
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課號 |
EEE5011 |
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課程識別碼 |
943 U0110 |
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班次 |
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學分 |
3 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期四2,3,4(9:10~12:10) |
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上課地點 |
博理103 |
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備註 |
總人數上限：30人 |
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Ceiba 課程網頁 |
http://ceiba.ntu.edu.tw/972SystemTesting |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
1. VLSI測試概論
2. 錯誤模型與模擬
3. 自動測試圖樣產生技術
4. 內建自我測試
5. 記憶體測試
6. 類比電路測試
7. ADC/DAC測試 |
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課程目標 |
本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術，內容包含可測試性設計（Design-for-Test）、內建自我測試（Built-In Self-Test）、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 |
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課程要求 |
邏輯設計
電子學 |
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
另約時間 |
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指定閱讀 |
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參考書目 |
LSI Test Principles and Architectures, L.-T. Wang, C.-W. Wu, and X. Wen, Eds., Morgan Kaufmann
Publishers, 2006.
http://www.elsevier.com/wps/find/bookdescription.cws_home/707926/description#description
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評量方式
(僅供參考) |
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No. |
項目 |
百分比 |
說明 |
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1. |
期中考 |
25% |
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2. |
期末考 |
25% |
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3. |
出席 |
10% |
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4. |
作業 |
20% |
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5. |
mini-project |
20% |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
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第1週 |
2/19 |
Course overview<br>Introduction |
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第2週 |
2/26 |
Design-for-Test |
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第3週 |
3/05 |
Design-for-Test / Built-In Self-Test |
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第4週 |
3/12 |
Built-In Self-Test |
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第5週 |
3/19 |
Test compression |
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第6週 |
3/26 |
Low Power Testing / Memory Testing |
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第7週 |
4/02 |
掃墓節（停課） |
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第8週 |
4/09 |
Memory Testing |
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第9週 |
4/16 |
Memory testing |
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第10週 |
4/23 |
期中考 |
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第11週 |
4/30 |
Memory testing |
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第12週 |
5/07 |
AMS Testing |
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第13週 |
5/14 |
AMS Testing |
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第14週 |
5/21 |
AMS Testing |
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第15週 |
5/28 |
端午節（停課）（ETS） |
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第16週 |
6/04 |
AMS Testing / High-Speed IO Testing |
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第17週 |
6/11 |
High-Speed IO Testing |
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第18週 |
6/18 |
期末考 |
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